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LT100覆層測(cè)厚儀的功能特點(diǎn)及選用探頭的規(guī)格

2010-12-20 北京卓銳科技 10183

LT100覆層測(cè)厚儀

本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

圖片關(guān)鍵詞

在國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品中,測(cè)量精度高(A級(jí)),速度快,穩(wěn)定性好。且操作方便,外形美觀。主要測(cè)量金屬表面涂、鍍層的厚度。

本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭,適用于不同場(chǎng)合。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的常規(guī)儀器。

功能特點(diǎn)

●兩種工作方式:直接方式和成組方式轉(zhuǎn)換

●兩種測(cè)量方式:?jiǎn)未螠y(cè)量和連續(xù)測(cè)量(大面積內(nèi)快速獲取讀數(shù))轉(zhuǎn)換公、英制轉(zhuǎn)換

●開(kāi)機(jī)后顯示 后一個(gè)讀數(shù)

●背景照明(可選擇)

●聲音提示數(shù)據(jù)已讀取

●可設(shè)置數(shù)據(jù)的測(cè)量范圍,聲音提示數(shù)據(jù)超出允許的測(cè)量范圍

●具有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能

●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的刪除功能(刪除當(dāng)前測(cè)量值,刪除當(dāng)前組測(cè)量數(shù)據(jù),刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù))

●可存儲(chǔ)5組數(shù)據(jù),每組100個(gè),共500個(gè)數(shù)據(jù)

●全中文菜單

●多種校準(zhǔn)方式

●具有手動(dòng)和自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

圖片關(guān)鍵詞

標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、探頭(F1N1)、基體、試塊、5試片(50μm100μm、200μm500、1000μm)、9V堿性電池

選配件:打印機(jī)、各種探頭

LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù) 

探頭

F400

F1 

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流


測(cè)量范圍(μm)

0~400

0~1250

0~10mm

0~400

0~12500

10~200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3)%H+0.7]

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±(1~3%H+0.7)

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

小面積直徑(mm)

¢3

¢7

¢40

¢4

¢5

¢7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無(wú)限制

測(cè)頭選用參考表

覆蓋層基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm 
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F1型測(cè)頭
0~1250μm 
F10型測(cè)頭
0~10μm

F400型測(cè)頭0~400μm 
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F1型測(cè)頭
0~1250μm 
F10型測(cè)頭
0~10μm

被測(cè)面積直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm 

F400型測(cè)頭0~400μm 
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F400型測(cè)頭0~400μm 

F400型測(cè)頭0~400μm 
F1型測(cè)頭
0~1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積直徑大于10mm

N1型測(cè)頭0~1250μm
N400測(cè)頭0~400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

被測(cè)面積直徑大于10mm

N400測(cè)頭0~400μm

N400測(cè)頭0~40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積直徑大于7mm

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CN02型測(cè)頭10~200μm